可根據需求自動調整狹縫寬度,優化光束強度與分辨率
突破傳統限制,擴展角度范圍
XRD(X射線衍射)的原理基于晶體對X射線的衍射效應。當一束特定波長的X射線照射到規則排列的晶體樣品時,晶體內部有序排列的原子層會成為天然的三維衍射光柵,對入射X射線產生干涉作用。根據布拉格定律(nλ = 2d sinθ),只有當X射線的入射角θ、晶面間距d和X射線波長λ滿足特定數學關系時,才會產生相長干涉,形成強衍射峰。通過測量這些衍射峰的角度和強度,就能反向推算出樣品的晶體結構、晶胞參數、物相組成等關鍵信息。
FRINGE CLASS桌面式X射線衍射儀是一種多功能粉末衍射分析儀器,它廣泛用于研究,材料科學和化學,以及工業研究和質量控制。
材料研究、生物醫藥、礦物、塑料制品、半導體等眾多領域分析應用的理想工具
可對材料的主要成分,次要成分和微量成分進行全晶相辨別,具有精度高、應用范圍廣等優點。
FRINGE EV桌面式X射線衍射儀擁有緊湊的尺寸,無需復雜的實驗室設施,一個標準的墻插和幾分鐘的時間就可以讓他得到出色的結果。
專為材料科學研究與工業品質控制打造,其高精度、高準確度、高穩定性以及廣泛的應用領域,為用戶帶來前所未有的材料分析便捷與高效,是科研探索與工業生產的理想之選。
內置高精度θ-θ立式測角儀、Xeye2D探測器以及自主CrystalX分析軟件,可輕松對粉末、薄膜、塊體、液體等多種形態的樣品進行物相鑒定、晶體結構解析、殘余應力分析、織構分析等多種功能,滿足多樣化的科研與工業需求。