作為一款集現代電子光學技術與精密分析功能于一體的高端科研設備，浪聲SuperSEM桌面式多功能實時能譜掃描電鏡專為材料科學、納米技術、生物醫學及工業質量控制等多個領域而設計。
SuperSEM搭載先進的電子光學系統，集SEM與EDS技術于一身，憑借其卓越的分析性能、實時能譜偽彩成像技術以及用戶友好的操作體驗，可輕松實現樣品表面結構與化學元素的深度分析。此外，還配備三軸樣品臺、光學導航等高端硬件，確保了儀器卓越的性能。
此外，其還配套了專業的數據分析軟件，軟件支持自動聚焦和快速掃描，以及結合了視頻模式下實時觀察樣品元素分布的功能，不僅簡化了操作流程，更確保了圖像采集與分析的精確性和高效性。適用于金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質等材料分析，是科研和工業檢測的得力助手。
SuperSEM賦予您前所未有的分析自由度，讓您能夠隨心所欲地"圈點江山"——無論是微觀世界中的點線面都能精準鎖定。配合強大的可視化分析算法，即使是重疊的譜峰也能被輕松"拆解"，元素分布如同"熱力圖"般清晰呈現，為您的材料界面布局、元素均勻性、擴散打開全新視野！
與傳統的掃描電鏡不同，本儀器將EDS作為一種探測器一起集成在電鏡上，獨家開發BSE視頻數據和EDS能譜數據同步處理的算法，可掃描獲取多種信號同時執行元素分析，實時檢測形貌與各種元素含量信息。
搭載10M信號采集寬帶，猶如為微觀世界配備了一臺"4K超高清高速攝像機"，極速掃描，讓您在視頻模式下可實時捕捉樣品的每一幀精彩瞬間，無重影、拖影，每一個細節都它逃不過的"火眼金睛"！
告別漫長等待！本系統打破傳統束縛，讓定量分析結果如同"直播"般實時呈現。您可以在數據采集的同時，輕松調取歷史譜圖進行即時對比，這種"邊采邊對比"的智能體驗，助力您的工作效率飛升！
材料科學 在材料科學中，SEM可清晰觀察材料表面的微觀形貌，如晶粒大小和分布，幫助研究人員初步了解材料結構。背散射電子探測器能根據原子序數差異區分不同材料相，為相分析提供依據。能譜探測器則用于基本的成分分析，確定材料中元素的種類和大致含量。這些功能為材料的初步研究和性能評估提供了重要的微觀信息。 |
工業制造 SEM主要用于質量檢測和工藝優化,可檢查零件表面的加工痕跡、磨損情況以及微觀缺陷，確保產品精度和質量；識別材料成分差異，幫助發現雜質或材料不均勻性；進一步分析材料成分，確保符合設計要求。其有助于提高產品質量，減少次品率，優化生產流程。 |  生命科學 SEM可用于觀察細胞和生物組織的表面結構,清晰呈現細胞的輪廓、微絨毛等細節，幫助研究人員了解細胞的形態和功能。背散射電子探測器可以根據細胞成分的差異進行區分，提供細胞內部結構的初步信息。能譜探測器可用于分析細胞內元素的分布，如鈣、磷等，為生物材料研究和細胞生物學研究提供基礎數據。 |
地球科學 在地球科學中，SEM可觀察礦物晶體的形態、大小和排列方式，幫助科學家推斷礦物的形成環境，也能區分不同礦物成分，為巖石的成分分析提供直觀圖像。搭配EDS可用于精確分析礦物的元素組成，確定礦物種類。為地質學家研究地球歷史和地質過程提供了重要的微觀證據。 |
在新能源材料研究中，SEM為新能源材料的研發和性能優化提供了重要的微觀信息。其能清晰顯示電池電極材料的顆粒大小和孔隙結構，可區分不同材料相，幫助研究人員了解材料的均勻性。能譜探測器可用于分析材料成分，確保材料純度和一致性。 |
SEM可用于觀察金屬微觀組織結構，可清晰呈現晶粒大小和晶界形態，為了解金屬基本性能提供依據；可區分不同相，助力相分析。能譜探測器可分析金屬成分，檢測雜質元素。 |
| 版本 | SuperSEM N10 | SuperSEM N10eX | SuperSEM N10eV | SuperSEM N10XL |
| 尺寸（W×L×H） | 292×570×515 mm | 292×570×515 mm | 292×570×515 mm | 350×620×600 mm |
| 重量 | 55kg | 56 kg | 57kg | 66kg |
| 加速電壓 | 5 kV、10 kV、15 kV | 5 kV、10 kV、15 kV | 5 kV、10 kV、15 kV 20 kV、25 kV、30 kV | 5 kV、10 kV、15 kV、20 kV |
| 三軸自動樣品臺 | X:±25 mm Y:±25 mm Z:30 mm | X:±25 mm Y:±25 mm Z:30 mm | X:±25 mm Y:±25 mm Z:30 mm | X:±50 mm Y:±50 mm Z:60mm |
| 最大樣品尺寸 | 90 mm（直徑） 40 mm（厚度） | 90 mm（直徑） 40 mm（厚度） | 90 mm（直徑） 40 mm（厚度） | 200 mm（直徑） 60 mm（厚度） |
| 倍率 | ×10～×100,000（照片倍率） ×25～×250,000（顯示器倍率） | ×10～×100,000（照片倍率） ×25～×250,000（顯示器倍率） | ×10～×100,000（照片倍率） ×25～×250,000（顯示器倍率） | ×10～×100,000（照片倍率） ×25～×250,000（顯示器倍率） |
| 電子槍 | 預對中鎢燈絲電子槍 | 預對中鎢燈絲電子槍 | 預對中鎢燈絲電子槍 | 預對中鎢燈絲電子槍 |
| 檢測器 | 背散射電子：高感度4分割 背散射電子檢測器 | 背散射電子：高感度4分割 背散電子檢測器 二次電子：二次電子檢測器 EDS：實時能譜偽彩成像 | 背散射電子：高感度4分割 背散電子檢測器 二次電子：二次電子檢測器 EDS：實時能譜偽彩成像 | 背散射電子：高感度4分割 背散電子檢測器 二次電子：二次電子檢測器 EDS：實時能譜偽彩成像 |
| EDS參數 | / | 探測器類型：硅漂移探測器 探測面積：30mm2 分辨率：130eV 元素分析范圍：B（硼）-Cf（锎） | 探測器類型：硅漂移探測器 探測面積：30mm2 分辨率：130eV 元素分析范圍：B（硼）-Cf（锎） | 探測器類型：硅漂移探測器 探測面積：30mm2 分辨率：130eV 元素分析范圍：B（硼）-Cf（锎） |
| 圖像信號 | 背散射電子 | 背散射電子 自研實時能譜探測器 二次電子 復合圖像（背散射電子+二次電子+實時能譜自動著色偽彩成像） | 背散射電子 自研實時能譜探測器 二次電子 復合圖像（背散射電子+二次電子+實時能譜自動著色偽彩成像） | 背散射電子 自研實時能譜探測器 二次電子 復合圖像（背散射電子+二次電子+實時能譜自動著色偽彩成像） |
| 真空模式 | 標準 荷電減輕 | 導電體（僅背散射電子） 標準 荷電減輕 | 導電體（僅背散射電子） 標準 荷電減輕 | 導電體（僅背散射電子） 標準 荷電減輕 |
